Зеркальный электронный микроскоп
Зеркальный электронный микроскоп (ЗЭМ) — это специализированный инструмент, предназначенный для получения увеличенных изображений распределения электрических потенциалов на поверхности или электрических и магнитных полей вблизи поверхности образца. Вот основные аспекты, которые следует знать о зеркальных электронных микроскопах:
Конструкция и принцип действия:
Источник электронов: Микроскоп содержит источник электронов, который генерирует пучок электронов.
Люминесцентный экран: Экран выполнен из электропроводящего материала и служит для визуализации отраженного электронного пучка.
Сферические электроды: Средство для формирования изображения выполнено в виде двух концентрично расположенных сферических электродов. Один из них укреплен на держателе и служит мишенью, а другой частично покрыт люминесцентным экраном.
Потенциалы на электродах: Потенциалы на электродах подбираются так, чтобы электроны не попадали на мишень, а поворачивали вблизи нее.
Микрополя: Электроны около точки поворота испытывают воздействие поверхностных микрополей, которые возмущают их траектории. Это приводит к перераспределению плотности отраженного пучка, и на экране формируется увеличенное изображение исследуемых микрополей.
Преимущества и особенности:
Простота конструкции: Зеркальный электронный микроскоп прост в изготовлении и эксплуатации, что делает его удобным для использования.
Небольшие габариты: Компактные размеры позволяют использовать его в различных условиях.
Высокая разрешающая способность: ЗЭМ позволяет получать разрешение около 1000 Å и значительные увеличения, порядка 1000.
Математическая модель: Благодаря простоте полей в сферическом электронном зеркале возможно построение математической модели, с помощью которой можно количественно восстановить картину распределения потенциалов или полей на поверхности образца.
Применение:
Исследование микрополей: ЗЭМ используется для изучения распределения электрических и магнитных полей на поверхности образцов.
Количественное восстановление: С помощью математической модели можно количественно восстановить картину распределения потенциалов или полей.
Заключение
Зеркальный электронный микроскоп представляет собой мощный инструмент для исследования микрополей и распределения потенциалов на поверхности образцов. Его простота конструкции, высокая разрешающая способность и возможность количественного восстановления делают его незаменимым в научных и исследовательских лабораториях.
